Apple 測試第二代 iPhone Duo，首次整合屏下 Face ID

苹果测试第二代iPhone Duo：首次集成屏下面容ID 1小时前

AI 導讀

Apple 正在內部測試第二代 iPhone Duo 原型機，首次把 Face ID 感應器整合至外屏下方。該機型計劃於2027年推出，研發難點是把完整3D面部識別模組壓縮至折疊屏薄機身內。若進展順利，iPhone Duo 2 將搭載全功能屏下 Face ID；否則可能延至第三代。

正文

2026年10月，苹果正内部测试第二代iPhone Duo原型机，首次实现面容ID传感器集成于外屏下方。该机型计划于2027年发布，旨在解决初代因缺失面容ID遭用户诟病的问题。研发难点在于将完整3D面部识别模组（含红外摄像头与泛光感应元件）压缩至折叠屏薄机身内，延续iPhone 18 Pro的屏下传感技术路线。若进展顺利，iPhone Duo 2将首发搭载全功能屏下面容ID；否则或推迟至第三代。另据消息称，操作按钮集成方案仍在评估中。

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來源：DoNews · donews.com